Вводные замечания

Большой практический интерес представляют антенны с управляемым положением главного лепестка ДН. Управление (сканирование) можно осуществить, например, смещая облучатель линзы или зеркала из фокуса перпендикулярно оптической оси. При этом происходит наклон фронта волны, и лепесток отклоняется в сторону отставания фазы поля в раскрыве антенны.

Хотя такой электромеханический способ сканирования широко применяется, его возможности ограничены относительно небольшой угловой скоростью перемещения лепестка из-за механической инерционности подвижной части антенны (сканера).

На несколько порядков большую скорость перемещения можно получить с помощью антенн с электрическим сканированием. У таких антенн нет подвижных частей, а изменение фазового распределения в раскрыве антенны осуществляется чисто электрически: путем изменения токов или напряжений на управляющих устройствах.

Опыт показал, что электрическое сканирование удобно осуществлять с помощью многоэлементных антенн (решеток). Антенные решетки (АР) с электрически управляемым лучом получили наименование антенных решеток с электрическим сканированием.

АР, у которых фазовое распределение регулируется с помощью фазовращателей, включенных в линии питания излучателей, называются решетками с фазовым сканированием или фазированными антенными решетками (ФАР).

АР, у которых фаза поля (тока) каждого излучателя может принимать лишь несколько дискретных значений, называются решетками с коммутационным сканированием.

АР, у которых фазовое распределение регулируется путем изменения рабочей частоты, называются решетками с частотным сканированием.

Многолучевой АР называют такую решетку, которая имеет несколько входов, причем фазовое распределение изменяется при переключении передатчика (или приемника) с одного входа на другой.

Находят применение также АР с обработкой сигнала. Заданные электрические параметры у таких антенн (ширина ДН, отношение сигнал/помеха, уровень боковых лепестков) достигаются путем соответствующей (например, логической, корреляционной) обработки сигналов, поступающих от элементов антенной решетки.

Сканирование может быть одномерным (положение главного лепестка изменяется только по одной угловой координате) и двумерным (положение главного лепестка изменяется по обеим угловым координатам).

Основные особенности сканирования

При качании лепестка наблюдаются общие для всех способов сканирования особенности, которые рассматриваются ниже.

1. Одномерное сканирование можно осуществить с помощью как поверхностных, так и линейных АР (рис. 12.1). Если для сканирования используется прямолинейная эквидистантная АР (рис. 20.1), то ориентация главного лепестка ДН определяется по формуле (13.14), которую запишем в виде

(20.1)

Коэффициент замедления x=y/kd (13.9), а следовательно, и ориентацию главного лепестка можно при неизменной рабочей длине волн генератора l регулировать, изменяя, например, с помощью фазовращателей сдвиг фаз y между соседними излучателями. Это соответствует случаю фазового сканирования.

Из формулы (20.1) видно, что ориентацию главного лепестка можно регулировать, изменяя рабочую длину волны (частоту) генератора. Это соответствует случаю частотного качания. Следует заметить, что при т=0 (луч нулевого порядка) частотное качание можно осуществлять только, если Е; зависит от частоты, т. е. если для питания АР применить линию с дисперсией.

Для того чтобы главный лепесток некоторого порядка т сканировал в пределах всей области действительных углов (—90°£Jгл£90°), необходимо изменять частоту или замедление в определенных пределах. Если изменять частоту или замедление в более широких пределах, то лепесток порядка т уходит в область «мнимых»-углов, но при этом в области действительных углов может появиться соседний главный лепесток (порядка т+1 или т-1).

Сектором сканирования называют часть области действительных углов, в пределах которой сканирует главный лепесток.

Обозначая через uс границу симметричного сектора сканирования (рис. 20.1), можно условие единственности главного лепестка (13.17) записать в виде

(20.2)

Если сектор сканирования несимметричен относительно нормали к антенне, то под Jс следует понимать большую по абсолютному значению величину.

2. Двухмерное сканирование можно осуществить с помощью поверхностных антенных решеток (рис. 12.1, г, д, е, ж). Если для сканирования используется плоскостная эквидистантная решетка (рис. 14.10, а), то ориентация главного лепестка определяется формулами (14.60).

Переход от угловых координат Фxгл, Фyгл к сферическим координатам qгл , jгл (рис. 14.10, а) можно выполнить с помощью соотношений

(20.3)

(20.4)

Каждой ориентации главного лепестка, т. е. каждой паре значений углов qгл , jгл соответствует пара значений коэффициентов замедления xx , xy. Следовательно, двухмерное сканирование главного лепестка по заданному закону можно осуществить, изменяя по соответствующему закону коэффициенты замедления.

3. Искажения главного лепестка. При синфазном возбуждении прямолинейной решетки главный лепесток ориентирован нормально к раскрыву, а ширина главного лепестка определяется по формулам (13.30). Как было показано в 13.3, п. 3, при склонении главного лепестка от нормали он расширяется по закону 1/sinJгл. Это расширение ограничивает величину сектора сканирования лепестка прямолинейной решетки. В тех случаях, когда требуется осуществлять неискаженное сканирование в широком секторе углов (±60° и более), применяют непрямолинейные, например, дуговые или кольцевые решетки, либо несколько прямолинейных решеток, каждая из которых работает в своем секторе сканирования.

При отклонении лепестка от нормали нарушается также его симметрия относительно направления Jгл, причем q²0.5>q¢0.5 (рис. 20.1).

В главе 13 было показано, что множитель прямолинейной решетки изотропных источников в режиме наклонного излучения имеет вид воронки (рис. 13.7). Обычно излучатели являются направленными. Из-за направленности каждого излучателя в плоскости, перпендикулярной оси решетки, пространственная ДН решетки имеет вид луча, сечение которого (при J= Jгл) расположено на части поверхностного конуса. Такое искажение называется конусностью лепестка.

Так как на ДН антенной решетки влияют направленные свойства одиночного излучателя, входящего в решетку, то в зависимости от формы ДН излучателя при сканировании могут наблюдаться дополнительные искажения главного лепестка, например смещение Jгл.

1	2	3	4	5